Focus sur une technique : La microsonde électronique EPMA

Instrument d’analyse micrométrique largement utilisé pour la caractérisation à petite échelle des matériaux. Il permet, via l’utilisation des interactions électrons-matière, de déterminer la composition chimique (du B à l’U) des matériaux solides au niveau du µm3. L’échantillon observé est bombardé par un faisceau d’électrons ce qui donne lieu à l’émission de rayons X de différentes énergies caractéristiques des éléments qui le composent. L'analyse du spectre des rayons X ainsi produits permet de déterminer la nature des éléments présents dans l'échantillon (analyse qualitative) et leurs concentrations (analyse quantitative). La Microsonde JEOL IHP-200F est équipée d’une source d’électrons de type Schottky (haute résolution), de 5 spectromètres à dispersion de longueur d'onde (WDS), d’un spectromètre à dispersion d'énergie (EDS) et d’un spectromètre de cathodoluminescence hyperspectrale. Avec la participation d'Ida DI CARLO, responsable de l'instrument à la plateforme MACLE-CVL, une série de « Focus sur une technique » de l'ARD MATEX mettant en valeur les instruments du parc instrumental visible sur le site : www.ard-matex.fr